В условиях уменьшения размеров элементов микроэлектронных устройств до 90 нанометров и менее необходимы более совершенные средства автоматического проектирования электронных систем, такие как предлагаемое решение для статистического анализа синхронизации временных процессов, чтобы уменьшить риски, повысить гибкость и ускорить процесс создания продукции.

Новое ПО поддерживает отраслевые стандарты (в т.ч. sdc, .lib, spef) и обеспечивает всесторонний учет вариаций технологических параметров.

Специалисты IBM по разработке специализированных ИС уже опробовали статистические методы при проектировании 90-нм компонентов. Эти методы помогают разделить различные составляющие отклонений параметров и с помощью статистических подходов определить критические пути для определенных типов отклонений, тем самым исключив необходимость в выборе наиболее консервативных решений.